Nano-oluşumlar içeren malzemelerin incelenmesinde SAXS Yöntemi ve Uygulamaları Son yirmi yıldır, modern X-ışını kaynaklarının kullanılmaya başlanması ve detektör teknolojisindeki gelişmeler moleküler boyut ile mikro boyut arasında kalan yapısal farklılıkları ayrıntısı ile inceleme olanağı sağlamıştır. Bu bölgedeki yapısal incelemeler, nano-teknolojideki gelişmelere paralel olarak günümüzde büyük önem taşımaktadır. Akısı yüksek x-ışını kaynakları ile verimi ve duyarlılığı yüksek detektörler sayesinde, incelenecek örnek içeriğinde bulunan nano boyutlu oluşumlardan saçılan yüksek şiddetli x-ışını verileri (küçük saçılma açısı bölgesinde) etkin bir biçimde, ölçülebilir hale gelmiştir. Böylece X-ışınları, katı (kristal, kristalin, film, toz, sıkıştırılmış toz v.b.) formlara sahip örnekleri incelemede kullanılırken, artık sıvı, jel, yoğun gaz gibi farklı formlara sahip örnekler ile biyolojik dokuları da incelemede kolayca kullanılabilir hale gelmiştir. Ayrıca sıcaklık ve basınca bağlı yapısal değişimler de çok kısa sürelerde zaman çözünürlü deneylerle incelenebilmektedir. X-ışını saçılma deneylerinin en önemli üstünlüğü küçük ve geniş açı bölgelerine ait saçılma verilerinin aynı anda kaydedilebilmesi ile hem moleküler boyuta hem de nano boyuta ait yapısal bilgilere ulaşılabilmesidir. Böylece incelenecek örneğe ait faz diyagramları ve yapısal dinamikler de ayrıntısı ile araştırılabilmektedir. X-ışını saçılma deneylerinde en zorlu evre, yapının tamamına ait elektron yoğunluğu değişiminin uygun modeller kurarak elde edilebilmesi aşamasıdır. Bu aşamada, örnekleri sentezleyen, elde eden ve farklı amaçlarla incelemek isteyen bilim insanlarının görüşlerinin/beklentilerinin bilinmesi ve güncel literatürün yakından takip edilmesi gerekir. İncelenecek her bir örnek özel bir örnektir ve her biri için özel modeller oluşturulması gerekir. Bunun için en önemli parametre zamandır. Bilinçli bir çalışma ve kaliteli veri ile ayrıntılı analizler örneğe bağlı olarak 1-6 ay içerisinde tamamlanabilir. Bununla birlikte, incelenecek örneklerin üç boyutlu yapılarına ait ayrıntılı elektron yoğunluklarının elde edilmesi yerine, çok karmaşık yapıya sahip olmayan örneklerin yapılarında bulunan küresel, çubuk, plaka formundaki oluşumların sayısı, boyutları, dağılımları çok kısa sürede kolayca belirlenebilmektedir. Bunun için gereken en önemli koşul örnek içeriğinde en az iki farklı elektron yoğunluğuna sahip bölgelerin olması ve bu bölgelerin 1-500 nm boyutta geometrik şekillenimlerinin olması gerekir. Bu tür örneklere ait bazı yapısal içerikler Şekil 1. de görselleştirilmiştir. Şekil 1. SAXS yöntemi ile incelenebilecek nano boyutlu oluşumlara ait bazı şekillenimler Bu tür oluşumlar içeren malzemeler, polimerler, kompozitler, seramikler, zeolitler, jeller, katkılanmış malzemeler, sanki (kuazi) kristaller, ince filmler, biyolojik dokular, yüzey aktif bileşikler, kaplanmış manyetik nanoparcacıklar, ilaç taşıyıcı sistemler, biyolojik aktif bileşikler, v.b. olarak sıralanabilir. Mikroskopik yöntemlerle yapılan analizlere göre, örneğin tamamına ait yapısal bilgiye ulaşma imkanı da bir diğer avantaj olarak görülmektedir. Örneklerin miktarına, içeriğine ve formuna göre çok çeşitli örnek tutucular kullanılmakla birlikte, gerek duyulduğunda yeni örnek tutucular da tasarlanıp mekanik atölye desteği ile hazırlanabilmektedir. Şekil 3. Veri analizinde kullanılan algoritma SAXS-WAXS, SWAXS ( Küçük ve Geniş Açı Saçılma) Yöntemlerinin temelleri: Yöntem ana hatları ile X-ışını kaynağına, ışını yönlendirerek şekillendirebilecek optik elemanlara, sabit/hareketli örnek tutuculara, akış hücrelerine, vakum, sıcaklık ve basınç kontrol sistemlerine, çizgi/alan detektöre, veri kaydetme ve analiz ile ilgili yazılımlara ihtiyaç duyar. Deney sisteminin genel şeması Şekil 2. de görülmektedir. Deney sisteminin örnek tutucu bölümüne eklenebilen akış hücresi yardımı ile bir çözelti içinde bulunan yüzey aktif bileşik sayısı artırılarak, yapıda oluşan değişiklikler, Şekil 4. de görülebildiği üzere saçılma profillerinden kolayca izlenebilmektedir. Şekil 4. Çözeltide buluna yüzey aktif bileşiklerin (kırmızı renkli küreciklerin) sayısı artırıldıkça saçılma deseninde gözlenen değişim. SAXS veri analizinde izlenen yol : Şekil 2. SAXS ve WAXS ölçümü ile ilgili genel şema Şekil 2. SAXS ve WAXS ölçümü ile ilgili genel şema Yöntemin algoritması (Şekil 3.), saçılma verisinin ters uzaya ait bilgi içermesi ve Fourier analizi ile gerçek uzaya geçişin yapılabilmesine dayanır. Böylece gerçek uzayda incelenen örneğin yapısına ait oluşum şekilleri, büyüklükleri, sayıları, uzaklık dağılımları, ara yüzey alanları ve kalınlıkları, elektron yoğunluk değerleri gibi önemli yapısal bilgilere ulaşılır. Saçılma verilerinin değerlendirilmesinde ve üç boyutlu yapının açıklanmasında Şekil 5. de ifade edilen aşamalardan geçilir. Bir sıvı örnek içın çizdiğimiz bazi grafikler: 1 2 Hacettepe Üniversitesi’nde yapılan SAXS analizleri: Hacettepe Üniversitesi, Fizik Mühendisliği Bölümü, X-ışını Laboratuvarı donanımları arasında bulunan SWAXS sistemi kullanılarak endüstriyel ve teknolojik kazanıma yol açacak pek çok önemli örneğin nano boyutta karakterizasyonları yapılabilmektedir. Ayrıca, dış etkilere bağlı olarak yapısal değişimler moleküler boyuttan nanoboyuta kadar eş zamanlı ölçümler ile incelenebilmektedir. Çalışmalar, sadece Hacettepe Üniversitesi bünyesinde sınırlı kalmayıp, Anadolu Üniversitesi, Gazi Üniversitesi, Yeditepe Üniversitesi, Yıldız Teknik Üniversitesi ve Gülhane Askeri Tıp Akademisi’nde Fizik, Kimya, Biyoloji, Diş Hekimliği, Eczacılık, Mühendislik v.b. bölümlerde görev yapan bilim insanları ile ortak bilimsel araştırmalar da yapılmaktadır. Bu çalışmalardan bazıları aşağıda başlıklar halinde sunulmuştur. 1- Diş dolgu maddelerinin tedavi aşamasında dentin tabakasına nano boyutta tutunumunun incelenmesi. 2- Buğday ve mısır nişastalarında enzime dirençli kristalin oluşumların incelenmesi. 3- Farklı yüzey aktif bileşiklerin etkileşimi ile karmaşık şekillerde oluşturulan nano oluşumların karakterizasyonu. 4- Polimer kaplı manyetik nanoparçacıkların yapılarının ve çözelti ortamındaki davranışlarının incelenmesi. 3 5- Altın nanoparçacıklar üzerine DNA ve peptit tutunumu ile oluşturulan kübik nanoyapıların incelenmesi. 6- İlaç taşıyıcı sistemler için geliştirilen pH, sıcaklık ve konsantrasyona bağlı misel ve ters misel yapı oluşturabilen kopolimer yapıların analizleri. 7- Örümcek ağları, tendon yapılar, diş kesitleri v.b. biyolojik örnekler üzerine yapılan analizler. 8- Nano boyutta katkılamalarla mekanik özellikleri artırılmaya çalışılan polimer yapılar ile ilgili analizler. 9- Tek ve çok katmanlı ince filmler, sıvı kristaller ve sanki (kuazi) kristal yapılar üzerine araştırmalar. Bu çalışmaların gerçekleştirildiği laboratuvar olanakları ile sistem kurulumu öncesinde ve sonrasında üç farklı çalıştay düzenlenerek, yöntem ve uygulamaları ile ilgili uluslararası katılımlı üç çalıştay gerçekleştirilmiştir. Şu anda Hacettepe Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Nanoteknoloji ve Nanotıp Anabilim Dalı bünyesinde Doktora ve Yüksek Lisans öğrencileri için SWAXS yöntemi ve uygulamaları konulu bir ders verilerek yöntemin disiplinler arası kullanımı sağlanmaktadır. X-Işını Saçılma Yöntemi ile İlgili Bilgi Alınabilecek Bazı Kaynak Kitaplar: Kratky Geometrisine Sahip Laboratuvar Tipi SWAXS Sisteminin Genel Görüntüsü: 1-1-2W ❹ SAXS dedektörü ❺ Çeşitli örnek tutucular. ❻x-ışını tüpü. ❶ SWAXS Sistemi ❷ Örnek tutucunun Yerleştirdiğı yer. ❸ WAXS dedektörü. Program ara yüzü (ASA3): s