9. EùøKALTI BÖLGESøNDE ÇALIùAN ANALOG YAPI BLOKLARI Son yıllarda, eúikaltında çalıúan MOS tranzistorların kullanıldı÷ı analog devre yapıları gittikçe önem kazanmaktadır. Bunun baúlıca nedeni, hasta üzerine yerleútirilebilecek kadar küçük boyutlu biomedikal cihazlar gibi düzenlerde kullanılabilecek, pille beslenen ve düúük güç harcayan elektronik devrelere duyulan gereksinmedir. Bir MOS tranzistoru eúikaltında çalıútırmanın sa÷layaca÷ı çok sayıda yararlı yanları bulunmaktadır: a- Eúikaltında çalıútırılan MOS tranzistorlarla kurulan devreler için güç tüketimi 1012 ile 10-6 W mertebesinde çok küçük de÷erler gösterir. b- Tranzistorun savak akımı birkaç kT/q de÷erinde doyar, bu da tranzistorun referans geriliminden besleme gerilimine kadar olan aralıkta bir akım kayna÷ı gibi davranmasını sa÷lamaktadır. 9.1 Eúikaltı MOS modeli ba÷ıntıları Bir MOS tranzistorda, VGS geçit-kaynak geriliminin VT eúik geriliminden büyük olması halinde, tranzistorun akım-gerilim iliúkisi doyma bölgesinde (VDS tVGS - VT , VGS >VT) ID E 2 (VGS VT ) 2 karesel ba÷ıntısı ile verilir. Genellikle, VGS<VT için ID savak akımı ihmal edilir. Gerçekte, VGS<VT için yüzeye yakın bölgelerde bir elektron yo÷unlu÷u bulundu÷undan, savak akımı sıfır de÷ildir. Bu bölgeye eúikaltı yahut zayıf evirtim bölgesi, bu bölgedeki akıma da eúikaltı akımı adı verilir. Di÷er bir deyiúle, geçit kaynak geriliminin eúik geriliminin üzerinde oldu÷u bölge kuvvetli evirtim bölgesi, bu gerilimin eúik geriliminin altında kaldı÷ı bölge de zayıf evirtim yahut eúikaltı bölgesi olarak isimlendirilmektedir. Kuvvetli evirtimde akan savak akımı 9.2 sürüklenme akımı, buna karúılık, eúikaltı akımı ise bir difüzyon akımıdır. VGS gerilimi VT eúik gerilimine do÷ru yaklaútıkça, MOS tranzistorun ID-VGS karakteristi÷i karesel ba÷ımlılıktan üstel ba÷ımlılı÷a dönüúür. Bir MOS tranzistorun eúikaltı davranıúını modellemek üzere çeúitli çalıúmalar yapılmıútır. Tranzistorun eúikaltı çalıúmada akıtaca÷ı savak akımı ID §W· ¨ ¸I DO exp qVG / kT exp qVS / kT exp qVD / kT ©L¹ > @ (9.1) ba÷ıntısıyla verilebilir. Bu ba÷ıntıdaki VG, VS ve VD büyüklükleri, geçit, kaynak ve savak uçlarının referans dü÷ümüne göre gerilimlerini vermektedir. Tranzistorun kaynak ucunun referans dü÷ümüne ba÷lanması durumunda (9.1) ba÷ıntısı ID §W· ¨ ¸I DO exp qVGS / kT 1 exp qVDS / kT ©L¹ > @ (9.2) úekline dönüúür. Burada VGS ve VDS büyüklükleri, sırasıyla, geçidin ve sava÷ın kaynak ucuna göre gerilimleri olmaktadır. Ba÷ıntılardaki IDO büyüklü÷ü prosese ba÷lı bir parametre olup, özellikle eúik gerilimi ve kaynak-gövde geriliminin bir fonksiyonudur (W/L).IDO çarpanı, kısaca Ion sembolü ile gösterilebilir. Yapılan araútırmalar, (9.1) ve (9.2) ba÷ıntılarının, MOS tranzistorun has yarıiletken bir gövde üzerinde oluúturulması durumunda geçerli oldu÷unu ortaya koymuútur. Gerçekte, MOS tranzistorlar has yarıiletken bir gövde üzerinde oluúturulmazlar; NMOS tranzistorlar p tipi bir gövde, PMOS tranzistorlar ise n tipi bir gövde üzerinde gerçekleútirilirler. Bu nedenle, yukarıdaki ba÷ıntılarda bir de÷iúiklik yapılması ve eúikaltı e÷im çarpanı olarak isimlendirilen bir model parametresinin (N) ba÷ıntılara katılması gerekli olur. Bu düzeltme için, (9.1) ve (9.2) ba÷ıntılarında geçit gerilimine iliúkin terimde kT/q yerine kT/(Nq) alınmalıdır. Böylece, eúikaltı ba÷ıntısı ID §W · ¨ ¸ I DO exp qNVG / kT exp qVS / kT exp qV D / kT © L¹ > @ (9.3) úeklini alır. (9.3) eúitli÷inde görülen N parametresi (eúikaltı iletim e÷im parametresi) prosesten prosese önemli ölçüde de÷iúim gösterebilir. Ancak, aynı üretim hattından çıkmıú tranzistorlar için bu parametrenin sabit de÷erli olaca÷ı söylenebilir. Bazı kaynaklarda, genellikle, VG, VS ve VD gerilimlerinin de÷erleri kT/q ısıl geriliminin katları cinsinden ifade edilerek, baúka bir deyiúle 9.3 vG VG kT / q , VS kT / q vS , vD VD kT / q úeklinde normalize gerilimler cinsinden verilmektedir. Literatürde bu normalize gerilimler cinsinden ifade edilmiú olan akım-gerilim ba÷ıntıları gerçek gerilimler cinsinden aúa÷ıdaki gibi olmaktadır: ID § V ·º § V ·ª § V · §W · ¨ ¸ I DO exp¨¨ N G ¸¸ «exp¨¨ S ¸¸ exp¨¨ D ¸¸» ©L¹ © kT / q ¹¼ © kT / q ¹ ¬ © kT / q ¹ ª § V ·º I SAT «1 exp¨¨ DS ¸¸» © kT / q ¹¼ ¬ biçiminde yazılabilir. Bu ba÷ıntıdaki ISAT büyüklü÷ü (9.4) (9.5) ID § NV VS · §W · (9.6) ¸¸ ¨ ¸ I DO exp¨¨ G ©L¹ © kT / q ¹ ba÷ıntısıyla tanımlanır ve tranzistorun doyma akımına karúı düúer. Ba÷ıntıdaki (W/L).IDO çarpanı yerine kısaca Ion yazılabilir. Eúikaltında ve doyma bölgesinde çalıúan tranzistorun akımını veren üstel ba÷ıntı I SAT ID ª § q ·º I on exp «VGS Von ¨ ¸» © nkT ¹¼ ¬ (9.7) biçimindeki bir eúitlikle de verilebilir. Bu ba÷ıntıda n bir katsayı, Von zayıf evirtimle kuvvetli evirtim arasındaki sınır de÷er, Ion büyüklü÷ü VGS = Von için kuvvetli evirtim ba÷ıntısının verece÷i akım de÷eridir. Bir MOS tranzistorda ISAT doyma akımının VGS gerilimiyle ne úekilde de÷iúece÷i ùekil-9.1’de gösterilmiútir. ISAT(A) -5 10 -8 10 -11 10 0.4 0.6 0.8 1 VGS(V) ùekil-9.1. Bir MOS tranzistorda ISAT doyma akımının VGS gerilimiyle de÷iúimi. 9.4 9.2. Eúikaltı bölgesinde çalıútırılan akım referansı devreleri +VCC T2 ID1 R ID3 T3 T1 ùekil-9.2.Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla akım referansı devresi. Eúikaltı bölgesinde çalıútırılan NMOS ve PMOS tranzistorların üstel akımgerilim de÷iúiminden yararlanılarak, bipolar tekni÷inden bilinen temel akım referansı devreleri, CMOS tekni÷i ile de gerçekleútirilebilir. Buna iliúkin bir devre örne÷i ùekil-9.2’de görülmektedir. Bu devrede T2 tranzistoru sürekli iletimdedir. Yapıdan akan akım T1, T3 tranzistorları ve R direnci ile dengelenmektedir. T1 ve T3 tranzistorlarının kaynak uçları referans dü÷ümüne ba÷lı olduklarından, T3 tranzistorunun savak akımı I D3 ( W / L )3 I .exp( R . I D1 . N / VT ) ( W / L )1 D1 (9.8) olmaktadır. Bu akımın alabilece÷i en büyük de÷eri hesaplamak üzere, (9.8) eúitli÷inin her iki tarafının ID1 büyüklü÷üne göre türevi alınıp sıfıra eúitlenirse, söz konusu maksimum de÷er için I D3 ( W / L )3 VT ( W / L )1 N. e. R (9.9) ba÷ıntısı elde edilir. Eúikaltı bölgesinde çalıútırılan di÷er bir akım referansı devresi ùekil-9.3’de verilmiútir. Bu devrede T2 ve T4 tranzistorları bir akım aynası oluútururlar. Bu akım aynasının kollarındaki akımların oranı S2/S4 olsun (Si = Pn,p .COX.(W/L)i ). Yapıda yer alan T1 ve T3 tranzistorları da ikinci bir akım aynasını oluúturmaktadır. Bunun kollarındaki akımların oranı da S1/S3 ile gösterilsin. Devredeki akım aynaları, úekilde gösterildi÷i gibi kapalı bir çevrim oluúturacak biçimde ba÷lanırlarsa, 9.5 çevrim kazancı akım aynalarının kazançlarının çarpımına eúit olur. Bu çevrim kazancı küçük akım de÷erleri için 1’den büyük seçilir; böylece kollardaki akımlar bir denge sa÷lanana kadar artarlar. Söz konusu denge, R direnci üzerinde bir VR gerilim düúümü oluúması ve kazanç de÷erinin 1’e eúitlenmesi ile sa÷lanır. +VDD T2 T4 T6 IR T3 T1 R VR ùekil-9.3. Eúikaltı iletimde çalıúan MOS tranzistorlarla kurulan di÷er bir akım referansı devresi. Yapıdaki T1 ve T3 NMOS tranzistorlarının eúikaltı bölgesinde çalıúmaları durumunda, R direncinin uçlarında düúen VR gerilimi VR kT S 3 S 2 ln q S1S 4 (9.10) úeklinde yazılabilir. Böylece, VR/R ile orantılı bir referans akımı, T4 ve T6 tranzistorlarının oluúturdu÷u akım aynasından gösterilen yönde akıtılabilir. 9.3. Fark kuvvetlendiricisi Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla fark kuvvetlendiricisi gerçekleútirmek mümkündür. ùekil-9.4’deki fark kuvvetlendiricisi ele alınsın. Bu devrede kutuplama akımını sa÷layan TB tranzistoru, akım kayna÷ı iúlevini yerine getirmektedir. Ortak kaynak dü÷ümündeki V geriliminin yeteri kadar büyük de÷erleri için, bu tranzistorun IB savak akımı VB kutuplama geriliminin belirledi÷i sabit bir de÷erde doyar. IB kutuplama akımının T1 ve T2 tranzistorlarıyla oluúturulan kollara ne úekilde da÷ılaca÷ı, V1 ve V2 gerilimleri arasındaki farka ve tranzistorların çalıúma rejimine (kuvvetli evirtim yahut eúikaltında çalıúma) ba÷lı 9.6 olur. Kuvvetli evirtimde çalıúan tranzistorlarla kurulan bir fark kuvvetlendiricisinin davranıúı daha önce Bölüm-2’de ele alınmıútı. Eúikaltında (zayıf evirtimde) çalıúan NMOS tranzistorlarda, (9.6) ba÷ıntısından görülece÷i gibi, tranzistorun doyma bölgesindeki ISAT savak akımı geçit ve kaynak gerilimlerine I SAT § NV VS I on exp¨¨ G © kT / q · ¸¸ ¹ (9.11) biçiminde üstel olarak ba÷lıdır. Bu ba÷ıntının T1 ve T2 tranzistorlarına uygulanması durumunda I1 § NV VS I on exp¨¨ 1 © kT / q · ¸¸ ¹ I2 § NV VS I on exp¨¨ 2 © kT / q · ¸¸ ¹ (9.12) yazılabilir. ID1 ve ID2 savak akımlarının toplamı IB kutuplama akımına eúit olmak zorunda oldu÷undan IB I1 I 2 § NV2 · · § NV1 · § V · § ¸¸ ¸¸ ¸¸ exp¨¨ ¸¸.¨¨ exp¨¨ I on exp¨¨ © kT / q ¹ ¹ © kT / q ¹ © kT / q ¹ © (9.13) olur. (9.13) eúitli÷i V gerilimi için çözülür ve bu çözüm (9.12) ba÷ıntılarında yerine konursa I1 § NV1 · ¸ exp¨¨ kT / q ¸¹ © IB. § NV1 · § NV2 · ¸¸ exp¨¨ ¸¸ exp¨¨ © kT / q ¹ © kT / q ¹ (9.14) I1 § NV2 · ¸ exp¨¨ kT / q ¸¹ © IB. § NV1 · § NV2 · ¸¸ exp¨¨ ¸¸ exp¨¨ © kT / q ¹ © kT / q ¹ (9.15) elde edilir. V1-V2 t kT/qN ise, T2 tranzistoru kesime girer ve tüm IB akımı T1 üzerinden akar. V1-V2 < -kT/qN durumunda ise T1 tranzistoru kesime sürülür ve akım tümüyle T2 üzerinden akar Yukarıda anlatılanlar do÷rultusunda düúünülecek olursa, fark kuvvetlendiricisinin çıkıú fark akımının 9.7 I1 I 2 § NV1 · § NV2 · ¸¸ exp¨¨ ¸ exp¨¨ kT / q ¹ kT / q ¸¹ © © IB. § NV2 · § NV1 · ¸¸ ¸¸ exp¨¨ exp¨¨ © kT / q ¹ © kT / q ¹ (9.16) ba÷ıntısı ile verilece÷i kolayca fark edilebilir. (9.16) ba÷ıntısının pay ve paydasının exp[-(V1+V2)/2] ile çarpılması durumunda, her bir üstel terim gerilim farkları cinsinden ifade edilebilir. Bu durumda çıkıú fark akımı I1 I 2 § N (V1 V2 ) · ¸¸ I B . tanh¨¨ © 2kT / q ¹ (9.17) biçiminde yazaılabilir. Bu ba÷ıntıdan kolayca fark edilebilece÷i gibi, çıkıú fark akımı, bipolar tranzistorlu fark kuvvetlendiricilerinde oldu÷u gibi, tanh fonksiyonunu izlemektedir. Bu fonksiyon, orijinden birim e÷imle geçer; büyük de÷erli pozitif argümanlar için +1, büyük de÷erli negatif argümanlar için de -1 de÷erlerine gider. Akımların giriú fark gerilimiyle de÷iúimi ùekil-9.5’de gösterilmiútir. I2 I1 T1 T2 V2 V1 IB VB TB ùekil-9.4. Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla fark kuvvetlendiricisi gerçekleútirilmesi 9.8 I1 ,I2 IB I2 I1 IB /2 0 V1 -V2 ùekil-9.5. Fark kuvvetlendiricisinin çıkıú akımlarının giriú fark gerilimine ba÷lı de÷iúimi. Eúikaltında çalıúan CMOS OTA yapıları +VDD T3 T4 I4 I3 I1 +V1 T1 +V2 I2 IO T2 IB VB TB ùekil-9.6. Eúikaltında çalıútırılabilecek en basit geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi yapısı Eúikaltında çalıútırılabilecek en basit geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi yapısı ùekil-9.6’da verilmiútir. Bu kuvvetlendirici, daha önce kuvvetli evirtimde çalıúan tranzistorlarla gerçekleútirilme úartı altında Bölüm-4’de ele alınan en basit yapıyla aynıdır. Devre bir fark kuvvetlendiricisi ve bir akım aynasından oluúmaktadır. PMOS tranzistorlarla kurulan bu akım aynası yardımıyla I1 ve I2 akımlarının farkı alınarak çıkıú ucuna yansıtılmaktadır. T3 tranzistorundan akan I1 akımına eú bir akım T4 tranzistorundan da akar. Böylece, devrenin çıkıú akımı I1-I2 9.9 olur. Bu akımın genel ifadesi daha önce (9.17) ba÷ıntısıyla verilen de÷iúimi izler. Kuvvetlendiricinin çıkıú akımı V1-V2 fark geriliminin bir fonksiyonu olarak çizilebilir. Elde edilecek de÷iúim tanh fonksiyonu biçiminde olur. kT/qN de÷eri, e÷rinin orijindeki e÷imi yardımıyla bulunabilir. Kuvvetlendiricinin Gm geçiú iletkenli÷i, tanh fonksiyonunun orijin civarındaki e÷imidir. Devreye iliúkin ba÷ıntılardaki de÷iúkenler cinsinden bu e÷im yazılırsa IB (9.18) Gm 2. kT q .N Gm K. I B kT q (9.19) elde edilir. Bu ba÷ıntıda K bir çarpan, T sıcaklık, IB OTA’nın kutuplama akımı, k Boltzmann sabiti q elektron yüküdür. Dikkat edilecek olursa, kuvvetlendiricinin geçiú iletkenli÷i, IB kutuplama akımı ile orantılıdır. Bu açıdan bakıldı÷ında, devre bipolar tranzistorlarla kurulan geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricileriyle aynı davranıúı göstermektedir. Bu davranıú, Bölüm-4’de ele alınan yapının davranıúından, e÷imin (IB)0.5 ile orantılı olması özelli÷inden, farklı olmaktadır. Eúikaltında çalıúan basit CMOS geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisinin çıkıú akımının giriú fark gerilimi ile de÷iúimi ùekil-9.7’de verilmiútir. IO IB 0 V1-V2 -IB ùekil-9.7. Eúikaltında çalıúan basit CMOS geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisinin çıkıú akımının giriú fark gerilimi ile de÷iúimi 9.10 Eúikaltında çalıútırılmaya elveriúli di÷er bir CMOS geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi yapısı ùekil-9.8’de görülmektedir. ùekilden fark edilebilece÷i gibi, bu yapı, daha önce Bölüm-4’de ele alınan simetrik CMOS geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi ile aynıdır. Bu devrenin geçiú iletkenli÷i (e÷imi) Gm K. I B kT q (9.20) ba÷ıntısıyla verilebilir. Elde edilen ifade önceki devreye iliúkin ba÷ıntıyla aynı karakterdedir. (9.19) ba÷ıntısından farklı olarak, burada K büyüklü÷ü devredeki akım aynalarının akım yansıtma katsayısını da içermektedir. Daha önce Bölüm-4’de de de÷inildi÷i gibi, simetrik geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi (OTA) yapısı, gerek bipolar gerekse CMOS analog devre tekni÷inde en yaygın olarak kullanılan devre topolojilerinden birini oluúturur. +VDD T6 T5 T2 T3 T4 T1 V2 V0 V1 T7 T8 TB VB -VSS ùekil-9.8. Eúikaltında çalıúan basit CMOS geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisi Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devreleri Analog çarpma devresi gerçekleútirmek üzere yararlanılan en temel yapı bloku, bipolar tekni÷inden de bilinen Gilbert dörtlüsüdür. Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla kurulan bir Gilbert çarpma devresi ùekil-9.9’da 9.11 gösterilmiútir. ùekildeki tranzistorların eúikaltında çalıútıkları düúünülecek olursa, tranzistor akımları exp I1 IB. exp( NV1 kT / q exp I1 IB. exp( NV1 kT / q NV1 kT / q exp (9.21) NV2 kT / q NV2 kT / q exp (9.22) NV2 kT / q I1 IB 2 § § N (V1 V2 ) · · ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ 2 / kT q ¹¹ © © (9.23) I2 IB 2 § § N (V1 V2 ) · · ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ © 2kT / q ¹ ¹ © (9.24) I 13 § N (V3 V4 ) · · I1 § ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ 2 © 2 / kT q © ¹¹ (9.25) +VDD T8 T7 I- I14 I+ I13 I23 V3 V4 V1 +VO I24 T3 T4 T6 T1 V2 VB T5 T2 TB ùekil-9.9. Eúikaltında çalıúan MOS tranzistorlarla kurulan bir Gilbert çarpma devresi 9.12 I 14 § N (V3 V4 ) · · I1 § ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ 2 © © 2kT / q ¹ ¹ (9.26) I 23 § N (V3 V4 ) · · I2 § ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ 2 kT / q 2 © © ¹¹ (9.27) I 24 § N (V3 V4 ) · · I2 § ¸¸ ¸¸ .¨¨1 tanh¨¨ 2 © © 2kT / q ¹ ¹ (9.28) úeklinde ifade edilebilir. Ba÷ıntılardan kolayca görülebilece÷i gibi, tranzistor akımları giriú gerilimlerine bipolar tranzistorlu devrelerdekine benzer biçimde tanh fonksiyonu ile ba÷lıdır. Devredeki I13 ve I24 akımlarının toplamı I+ akımını, I14 ile I23 akımlarının toplamı da I- akımını oluúturur. Böylece, I+ ve I- akımları için I § N (V3 V4 ) · I1 I 2 I1 I 2 ¸¸ . tanh ¨¨ 2 2 © 2kT / q ¹ (9.29) I § N (V3 V4 ) · I1 I 2 I1 I 2 ¸¸ . tanh ¨¨ 2 2 © 2kT / q ¹ (9.30) ba÷ıntıları yazılabilir. Üst tarafta yer alan PMOS akım aynası yardımıyla I+ akımı aynalanarak geçiú iletkenli÷i kuvvetlendiricisindekine benzer biçimde çıkıúa yansıtılmakta, böylece çıkıú akımı IO I1 I 2 . tanh§¨¨ N (V3 V4 ) ·¸¸ (9.31) IO § N (V1 V2 ) · § N (V3 V4 ) · ¸¸. tanh¨¨ ¸¸ I B . tanh¨¨ © 2kT / q ¹ © 2kT / q ¹ (9.32) © 2kT / q ¹ olmaktadır. Eúikaltında çalıúan CMOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devresinin tipik karakteristikleri ùekil-9.10’da görülmektedir. Bu karakteristik çıkartılırken V1-V2 giriú gerilimi parametre olarak alınmıútır. Benzer bir karakteristi÷in V3-V4 giriú geriliminin parametre olarak alınmasıyla da elde edilebilece÷i açıktır. 9.13 ùekil-9.9’da verilen devre, (9.32) ba÷ıntısı uyarınca ancak dar bir bölge içerisinde lineer çarpma iúlemini yerine getirebilir. Bu özellik, bipolar tekni÷inden de iyi bilinen bir özelliktir. IO (V1-V2) 3 (V1-V2) 2 (V1-V2) 1 V 3 -V 4 -(V1-V2) 1 -(V1-V2) 2 -(V1-V2) 3 ùekil-9.10. Eúikaltında çalıúan CMOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devresinin tipik karakteristikleri Düúük güç tüketimli iúlemsel kuvvetlendiriciler Eúiklatında çalıúan MOS tranzistorlarla kurulan iúlemsel kuvvetlendirici yapıları son yıllarda gittikçe önem kazanmaya baúlamıútır. Bunun baúlıca nedeni, bu tür yapıların bazı biyomedikal uygulamalarda kullanılan, pille çalıúan ve insan vücudu üzerine yerleútirilebilen, düúük güç tüketimli düzenler gibi elektronik sistemlerin gerçekleútirilmesine son derece elveriúli olmalarıdır. Bu tip kuvvetlendiricilerin sa÷ladıkları yarar sadece düúük çalıúma akımı çekmeleri de÷il, aynı zamanda düúük besleme gerilimlerinde de çalıúmalarıdır. Eúikaltı bölgesinde çalıúmaya iliúkin büyük iúaret ba÷ıntılarının kuvvetli evirtim ba÷ıntılarından farklı olmaları nedeniyle, bunların türevlerinden hareketle elde edilen küçük iúaret modeli ba÷ıntıları da farklılık gösterir. Buna göre doyma bölgesi için 9.14 I on exp NqVGS / kT ID (9.33) ba÷ıntısından hareketle bir MOS tranzistorun e÷imi gm wI D wVGS I on § NqVGS · Nq ¸ .exp¨ © kT ¹ kT Nq . I D kT gm (9.34) olur. Ba÷ıntıdan fark edilebilece÷i gibi, eúikaltı çalıúmada tranzistorun e÷imi ile akım arasında lineer bir iliúki bulunmaktadır. Bu açıdan bakıldı÷ında, eúikaltında çalıúan MOS tranzistorun e÷iminin bipolar tranzistorun e÷imine benzer biçimde ifade edildi÷i söylenebilir. (9.33) ba÷ıntısı birincil olaylari içeren, yani MOS tranzistorun temel davranıúını modelleyen bir ba÷ıntıdır. Bu nedenle, savak akımının savak-kaynak gerilimine ba÷ımlılı÷ı temsil edilmemektedir. Kuvvetli evirtim modelinde oldu÷u gibi, bu ba÷ıntıya da kanal boyu modülasyonu terimi katılabilir. Böylece savak akımı ba÷ıntısı I on .( 1 O.V DS ).exp NqVGS / kT ID (9.35) olur. Buradan hareketle zayıf evirtimdeki (eúikaltı çalıúmadaki) çıkıú direnci hesaplanırsa ro 1 O. I D (9.36) olur. E÷im ba÷ıntısında oldu÷u gibi, elemanın çıkıú direnci de tranzistorun (W/L) oranından ba÷ımsız kalır. Ancak, eúikaltı çalıúma bölgesi için belirlenecek O kanal boyu modülasyonu parametresinin kuvvetli evirtim için bulunacak olan parametre de÷erine göre önemli derecede farklılık gösterebilece÷ini belirtmekte yarar vardır. kuvvetlendiricinin kazanç-band geniúli÷i çarpımı da GBW N. I D1 kT C q (9.38) 9.15 +VDD T3 T4 IK T6 C T1 T2 VO T5 T8 T7 -VSS ùekil-9.11. øki kazanç katlı basit iúlemsel kuvvetlendirici yapısı. olur. (9.37) ve (9.38) ba÷ıntıları incelenecek olursa, iúlemsel kuvvetlendiricinin kazancının çalıúma akımlarından ba÷ımsız oldu÷u, buna karúılık kazanç-band geniúli÷i çarpımının ilk katın tranzistorlarının ID1 çalıúma akımına ba÷ımlı oldu÷u kolayca gözlenebilir. Kuvvetlendiricinin yükselme e÷imi hesaplanırsa YE I D5 C 2 I D1 C § kT · 2GBW¨ ¸ © N1 . q ¹ (9.39) elde edilir. Eúikaltında çalıútırılan di÷er bir iúlemsel kuvvetlendirici yapısı ùekil9.12’de gösterilmiútir. Bu devrede ilk katın gerilim kazancı KVO g m2 g m4 (9.40) olur. (9.40) ba÷ıntısı eleman parametreleri cinsinden yazılırsa kT q |1 kT I D 4 . N4 q I D 2 . N2 KVO (9.41) 9.16 +VDD T8 T3 T4 T1 T2 T9 T6 T7 T5 VB -VSS ùekil-9.12. Eúikaltı iletimde çalıúan puúpul çıkıúlı iúlemsel kuvvetlendirici. elde edilir. Görüldü÷ü gibi, ilk kat yardımıyla herhangi bir gerilim kazancı sa÷lanması olana÷ı bulunmamaktadır. økinci katın ise oldukça yüksek bir kazanç sa÷layaca÷ı söylenebilir. Eúikaltı bölgesinde çalıúan puúpul çıkıúlı bir iúlemsel kuvvetlendirici yapısı olan bu devrede, yapının toplam kazancı T3-T8, T4-T6 ve T9-T7 tranzistor çiftlerinin birer akım aynası oldukları gözönüne alınarak hesaplanabilir. Bu yapılırsa KVO KVO § S6 · g m1¨ ¸ © S4 ¹ g ds6 g ds7 (9.42) § S6 · ¨ ¸. N1 © S4 ¹ § kT · ¨ ¸ . O 6 O 7 © q ¹ (9.43) elde edilir. Bu tür yapılarla oda sıcaklı÷ında ve tipik tranzistor boyutları için 60dB mertebesinde gerilim kazancı elde etmek mümkündür. Devrenin kazançband geniúli÷i çarpımı GBW § S6 · g m1 .¨ ¸ © S4 ¹ C g m1 . B C (9.44) 9.17 olur. ba÷ıntıda yer alan B katsayısı T6 ve T4 tranzistorlarının boyut oranlarının oranıdır. Bu yapı ilkesini kullanarak daha yüksek açık çevrim kazancı de÷erlerine ulaúmak mümkündür. Bunun için iki farklı yol izlenebilir. Bunlardan birincisi, T3 ve T4 tranzistorlarından akan akımların bir kısmını baúka tranzistorlardan akıtarak bu tranzistorların e÷imlerini düúürmek ve bununla ilk katın kazancını arttırmaktır. Bu yönteme karúı düúen devre yapısı ùekil-9.13’de verilmiútir. Ancak, söz konusu yöntemle kazanç de÷erinde elde edilebilecek artma miktarı sınırlıdır. Kazancı yükseltmenin ikinci yolu ise, ùekil-9.14’da gösterilen biçimde devrenin çıkıú katını kaskod devre biçiminde kurmaktır. Devrenin kazancı hesaplanacak olursa K VO Nn § kT · ¨¨ ¸¸ © q ¹ 2 § O p 2 On 2 · ¸ .¨ ¸ ¨ Np N n ¹ © (9.45) elde edilir. Bu tür bir kuvvetlendirici ile 100dB’e varan kazanç de÷erleri elde edilebilir. Buraya kadar ele alınan iúlemsel kuvvetlendirici yapıları, düúük kutuplama akımları nedeniyle, yüksek de÷erli çıkıú akımı veremeyen devrelerdir. Düúük güç tüketimi gerektiren, ancak yüksek de÷erli çıkıú akımına da gereksinme gösteren uygulamalar için dinamik kutuplamalı iúlemsel kuvvetlendirici yapıları geliútirilmiútir. Bu tür yapıların temel ilkesi, giriúe fark gerilimi uygulandı÷ında giriú katının kutuplama akımının arttırılması fikrine dayanmaktadır. Dinamik kutuplamalı bir iúlemsel kuvvetlendirici devresi ùekil9.15’de gösterilmiútir. ùekil-9.15’deki devrede T11-T14 tranzistorlarının T3 ve T4 tranzistorlarına eúit oldukları ve T15, T16, T17, T20, T21 ve T22 tranzistorlarının birbirine eú oldukları varsayılsın. T17, T18, T19 ve T20 tranzistorlarının boyutları arasında da 9.18 T11 T12 T10 T3 T4 +VDD T8 T6 T1 T2 T9 T7 T13 VB T5 -VSS ùekil-9.13. Kazancı iyileútirilmiú iúlemsel kuvvetlendirici yapısı. +VDD T8 T3 T1 T4 T2 T6 VB1 VB2 T10 T11 CC T7 T9 +VB T5 -VSS ùekil-9.14. Çıkıú katının kaskod devre biçiminde kurulması. §W · ¨ ¸ © L ¹18 §W · A.¨ ¸ © L ¹17 (9.46) §W · ¨ ¸ © L ¹19 §W · A.¨ ¸ © L ¹ 20 (9.47) 9.19 iliúkisinin bulundu÷u kabul edilsin. Devrenin giriúine herhangi bir fark iúareti uygulanmıyorsa, I1 ve I2 akımları eúit olur. Bu nedenle, T16 tranzistorundan akan akım T13 tarafından sa÷lanan akıma eúittir. Bunun bir sonucu olarak T17 ve T18 tranzistorlarından, benzer úekilde T19 tranzistorundan akım akmaz. I1 ve I2 akımlarının dengesini bozacak bir fark giriú gerilimi uygulandı÷ında, fark kuvvetlendiricisinin kutuplama akımı A i1 i2 kadar artar; böylece çıkıútan alınabilecek akım IO §N V · I 10 exp¨ n IN ¸ © kT / q ¹ B. §N V · ( A 1 ) ( A 1 ).exp¨ n IN ¸ © kT / q ¹ (9.48) olur. Bu ba÷ıntıda B büyüklü÷ü T5 ve T4 tranzistorlarının boyut oranlarının oranını göstermektedir. +VDD T12 T4 T3 T14 T13 T5 I10 T8 T11 T2 T1 - + +VO T6 T7 T21 T15 T16 T17 T18 T9 T10 T19 T20 T22 ùekil-9.15. Dinamik olarak kutuplanmıú iúlemsel kuvvetlendirici. -VSS 9.20 KAYNAKLAR [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] P. Antognetti, D. Caviglia, E. Profumo, CAD model for threshold and subthreshold conduction in MOSFETs, IEEE J. Solid State Circuits, Vol. Sc-17, pp 454-458, 1982. B.J. Sheu, D.L. Scharfeter, P.-K. Koand M.-Ch. Jeng, BSIM: Berkeley shortchannel IGFET model for MOS transistors, IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. SC-22, 4, pp 558-564, 1987. M.D.Godfrey, Device modeling for subthreshold circuits, IEEE Transactions on Circuits and Systems, Vol.39, 8, pp 532-539, 1992. C. Mead, Analog VLSI and Neural Systems, Addison-Wesley Comp., 1989. H. Öztürk, Eúikaltında çalıúan CMOS OTA-C süzgeç tasarımı ve tıp elektroni÷i alanına uygulanması, Yüksek Lisans Tezi, øTÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 1994. P.E. Allen and D.R. Holberg, CMOS analog circuit design, Holt, Rinehart and Winston Inc., New York, 1987. H. Kuntman, Analog tümdevre tasarımı, Sistem yayınları, østanbul, 1992. H. Kuntman, Analog MOS tümdevre tasarımı (Endüstri Semineri Notu), øTÜ øleri Elektronik Teknolojileri Araútırma Geliútirme Vakfı (ETA), Uygulamaya özgü tümdevre teknolojileri yaz okulu notları, østanbul,1993. H. Kuntman, øleri analog tümdevre tasarımı: Analog devreler (Endüstri Semineri Notu), øTÜ øleri Elektronik Teknolojileri Araútırma Geliútirme Vakfı (ETA), østanbul,1994. H.Öztürk, H.Kuntman, M.Korürek, E.Yazgan, EEG iúareti (D, E, T ve G bandı) süzgeçlerinin eúikaltında çalıúan CMOS OTA-C süzgeçleri ile tasarımı, Biyomut 94, Biyomedikal Mühendisli÷i Ulusal Toplantısı Bildiriler Kitabı,16-19, Bo÷aziçi Üniversitesi 17-18 Ekim 1994.