Safra Taşlarının X-Işınları Difraksiyonu İle Analizi

Posterler (Poster Presentations)
YMF31
SAFRA TAŞLARININ X-IŞINLARI DİFRAKSİYONU İLE ANALİZİ
Hasan Kaya1, Mehmet Akkurt2 ve Orhan Türkoğlu3
1
2
3
Niğde Üniversitesi, Fen Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü, Niğde
Erciyes Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü, 38039 Kayseri
Erciyes Üniversitesi, Fen-Edebiyat Fakültesi, Kimya Bölümü, 38039 Kayseri
Günümüzde fizik tip alanına çeşitli yönlerden girmiş, teşhis ve tedaviye ışık tutacak
araştırmalarda ön plana çıkan bilim dalı olmuştur. X-ışınları ile kimyasal analiz, diğer yöntemlere olan üstünlüklerinden dolayı tıpta özellikle kristal yapıdaki bileşiklerin analizinde
uygulanmaktadır.
X-ışınları kırınımı ile kimyasal analizin, diğer yöntemlere göre en önemli ayrıcalığı bir
cismin varlığını, ayrı ayrı onu oluşturan kimyasal elementler cinsinden değil, numune içinde
gerçekte bulundukları şekilde açıklamasıdır. Kristalleşmiş bir numune ister saf, ister bir
kısım bileşiklerin karışımından oluşmuş olsun daima karakteristik bir kırınım deseni
oluşturur. Bu gerçek, kırınım ile kimyasal analiz yönteminin esasıdır.
Kayseri Devlet Hastanesi’nden alınan on hastaya ait safra taşları öğütülerek toz haline
getirildi. CuKo. radyasyonu (λ= 1.5406 oA) ve Ni filtre kullanılarak Siemens marka difraktometrede toz desenleri çekildi. Hanawalt metodu kullanılarak nitel analizleri yapıldı.
Analiz sonuçlarına göre bulunan bileşiklerden genellikle iki, üç ve bazan dört tanesinin bir
taşın yapısını oluşturduğu gözlenmiştir. Ayrıca bazı durumlarda taşın merkezinde bir
çekirdek ve bunun etrafını saran kabuklardan oluştuğu ve bunların tamamen birbirlerinden
farklı bileşiklerden meydana geldiği bilinmektedir. Bu yüzden analizde bütün
katmanlardan alınan örnekler kullanıldı. Bu tür analiz sonuçları hastaya uygulanacak diyetin belirlenmesinde yardımcı olmaktadır.
228